| １．電子顕微鏡のための断面試料作製技術 | （㈱日立ハイテクノロジーズ）森川晃成、伊藤寛征 |
| ２．3D-TEM/電子線トモグラフィーを用いたナノマテリアルの構造解析：ゴム中のナノフィラーネットワークとPK/PAポリマーアロイの相分離構造 | （㈱日産アーク）加藤 淳、池田裕子, 永田員也 |
| ３．FIB-SEM 複合装置を用いた材料の３次元評価技術 | （日本エフイー・アイ㈱）村田 薫 |
| ４．電子顕微鏡による接着界面の解析 | （(独)産業技術総合研究所）堀内 伸 |
| ５．マイクロフォーカスX線CTの原理と三次元観察実例 | （㈱島津製作所）大河内宏和 |
| ６．スチレン系エラストマーの相分離構造のナノ触診AFMによる解析 | （東北大学）中嶋 健、藤波 想、伊藤万喜子、王 東 |
| ７．二次元相関赤外分光法による接着硬化反応の解析 | （関西学院大学）森田成昭，山崎秀樹，新澤英之，尾崎幸洋 |
| 8．二次元ＩＲ解析の粘・接着剤を含めた高分子材料への応用 | （東京大学）竹村彰夫 |
| 9．偏光レーザラマン分光法を用いた分子配向測定 | （大阪市立工業研究所）山田浩二 |
| 10．ナノ赤外分光分析法によるPC/ABSブレンド材料のナノ構造解析 | （㈱日産アーク）粟谷 正、緑川ひろみ、叶 際平、C.Marcott, M. Lo, K.Kjoller, R.Shetty |